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   日本日置HIOKI新發(fā)售阻抗分析儀IM7580：

HIOKI（日置）發(fā)售阻抗分析儀IM7580，高頻（300MHz），高速（0.5ms）測量，提高生產(chǎn)效率。

HIOKI這次發(fā)售了阻抗分析儀IM7580。

在信息化社會不斷進步的現(xiàn)在，為了收發(fā)大容量數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展中。這種高速傳輸線的歪斜（延遲時間差）和干擾解決方法中所使用的共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件也向高頻化發(fā)展。

這次發(fā)售的IM7580zui高可測300MHz的高頻，是能應(yīng)對高頻化發(fā)展的電子元器件的產(chǎn)品。通過IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產(chǎn)效率。

阻抗分析儀IM7580開發(fā)背景

現(xiàn)在，為了收發(fā)大容量數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展中。為了在保證高速傳輸線的信號品質(zhì)的同時控制干擾，使用共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件，隨著傳輸線的高速發(fā)展，這類電子元器件也向高頻化發(fā)展。

而且，由于手機、手提電腦趨向于小型化，需要電源部分也向小巧的方向發(fā)展，出現(xiàn)DC-DC變頻器的開關(guān)頻率的高頻化的解決方案。因此，安裝在電源中的功率電感等電子零部件也向高頻化發(fā)展。

生產(chǎn)這類電子元器件的電子元器件廠家在電子元器件的開發(fā)和出貨檢查中需要進行高頻的測量。在出貨檢查中為了提高產(chǎn)量，需要使用能進行高速檢查的測量儀器。

在這樣的需求的基礎(chǔ)上，我司研發(fā)了可進行高頻、高速測量檢查的阻抗分析儀。

阻抗分析儀IM7580主要用途

電子元器件廠家的電子元器件的出貨檢查

電子公司的電子元器件的驗收和特性評估



阻抗分析儀IM7580的特點

1.zui高300MHz的高頻測量
IM7580的測量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測量的LCR表的模式下，判斷出貨檢查時的合格與否，改變頻率的同時在測量的分析模式下可用于產(chǎn)品開發(fā)的特性評估等多種領(lǐng)域中。
zui快0.5ms的高速測量或高穩(wěn)定性的測量，有助于提高生產(chǎn)效率
2.可進行zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于希望快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來說能夠大幅提高生產(chǎn)效率。
而且，測量的反復(fù)精度提高到以往產(chǎn)品的1/10，讓測量加穩(wěn)定，改善了生產(chǎn)產(chǎn)量，提高了生產(chǎn)效率。
3.主機體積小，有助于降低生產(chǎn)成本
在電子元器件廠家的生產(chǎn)線中，將各種儀器整合在機架上制作成檢查系統(tǒng)，然后進行自動檢查。因此，主機體積小的話，則檢查系統(tǒng)也會小巧，通過安裝多臺儀器可以索多檢查時間，從而降低生產(chǎn)成本。
IM7580的體積是半個機架的大?。ㄩL215mm，高200mm，厚268mm），一個機架可以安裝2臺。
4.各種各樣的判斷功能判斷合格與否
在單一的頻率測量的LCR表的模式下，有判斷電子元器件合格與否的比較器功能，選擇電子元器件的BIN功能。比較器功能中設(shè)置上下限值，以此為判斷標準來判斷是否合格。使用比較器功能是按照一個判斷標準判斷是否合格，而BIN功能是zui多設(shè)置10個判斷標準，然后進行排名。
使用多個頻率測量的分析模式的話，則有可從電子零部件的頻率特性中判斷合格與否的區(qū)域、峰值比較功能。區(qū)域判斷是確認測量值是否進入任意設(shè)置的判斷區(qū)域中的功能。峰值判斷是設(shè)置上限值、下限值、左限值、有限制后，判斷共振點的功能。